2017.05 - 2017.10 | 삼성전자

  • 딥러닝 기반의 이상 Wafer 인식기 개발 및 원인규명 시각화 알고리즘 개발을 목적으로 함
  • 엔지니어들의 다양한 사전 지식을 통합적으로 반영하고 모사하고자 함
  • 최근 머신러닝 분야에서 월등한 이미지 처리 성능을 보여주는 딥러닝 구조인 Convolutional Neural Network(CNN)을 사용하여 분류 정확도를 향상시킴
  • CNN을 사용하여 Wafer Bin Map의 불량의 원인이 되는 위치를 추출 및 파악함

Data Science & Business Analytics Lab.
School of Industrial Management Engineering
College of Engineering, Korea University

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  • 강필성 교수 (pilsung_kang@korea.ac.kr)
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