2016.08 - 2017.02 | 삼성전자

  • “딥러닝 기반의 이상 Wafer 인식기 개발” 을 목적으로 함
  • 엔지니어들의 다양한 사전 지식(domain knowledge)를 통합적으로 반영하고 모사하고자 함
  • 최근 머신러닝 분야에서 월등한 이미지 처리 성능을 보여주는 딥러닝 구조인 Convolutional Neural Network(CNN)을 사용하여 분류 정확도를 향상시키고자 함
  • 삼성전자에서 제공한 EDS Wafer BIN Map 결과와 엔지니어들에 의해 사전 정의된 정상/불량 정보
  • BIN map을 통해 정상/불량을 판별 가능한 Convolutional Neural Network(CNN) 구조 설계 및 BIN Color schema framework 제시

Data Science & Business Analytics Lab.
School of Industrial Management Engineering
College of Engineering, Korea University

Contact Us

  • 강필성 교수 (pilsung_kang@korea.ac.kr)
    서울특별시 성북구 안암로 145 고려대학교 자연계캠퍼스 창의관 801A호 
  • 대학원 연구실 (총무 이유경: yukyung_lee@korea.ac.kr)
    서울특별시 성북구 안암로 145 고려대학교 자연계캠퍼스 신공학관 220호, 221호, 213호
© 2020 DSBA Lab.